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珀金埃尔默Avio® 200 ICP-OES是进行此类检测的理想工具。其光学设计提供出色的光通量，这对在较短的分析时间内要测量较低的浓度非常重要。使用电荷耦合检测器（CCD），可同时提供背景和分析物测量，这在进行金属基质类样品分析时非常重要。本文使用Avio 200 ICP-OES测定LME不同规格铝锭中无机杂质元素含量。...
美国材料与试验协会，关于xrf测试什么的的标准ASTM C1456-13(2018) 用于测定钆/钆（或两者）在氧化钆 - 氧化铀丸或X射线荧光（XRF）中的标准测试方法ASTM D8127-17 使用用于在线润滑剂的X射线荧光（XRF）的耦合颗粒和元素分析的标准测试方法ASTM D8127-17e1 使用用于在线润滑剂的X射线荧光（XRF）的耦合颗粒和元素分析的标准测试方法ASTM D6502-10...
然后可以估计最大允许光程bmaxbmax=Amax/α Cest估计可能测量的目标气体或者干扰成分的最小浓度Cest,min，根据测量的RMS基线噪音的三倍设定最小可测量吸光度 Amin，可计算最小允许光程bminbmin=Amin/α Cest,min得到测量数据后，可以用已知浓度的参比样品计算目标气体或干扰成分的浓度。 ...
图1所示的ERAFLASH™单杯仪器，图2所示配备10位自动采样器的ERAFLASH S10™，都可以不同的测试方法进行闪点的测定。它采用ASTM D6450和更新的ASTM D7094标准“用改进的连续闭杯（MCCCFP）测试仪测定闪点的试验方法”。ERAFLASH™采用连续闭杯设计，测试所需样品量小，完全消除了实验室火灾的风险。图 1....
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