ASTM E2444-05e1由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2005。
ASTM E2444-05e1 在中国标准分类中归属于: A42 物理学与力学。
1.1 本标准包含与在反射薄膜上进行的测量有关的术语和定义,例如微机电系统 (MEMS) 材料中的薄膜。特别是,这些术语与第 5 节中的标准相关,这些标准由疲劳和断裂委员会 E08 制定。与疲劳和断裂试验相关的术语E 1823适用于本标准。
1.2 术语按字母顺序列出。
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