ASTM F1996-06由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2006。
ASTM F1996-06 在中国标准分类中归属于: L57 膜集成电路。
银迁移的影响是短路或绝缘电阻降低。这可以通过阴极和阳极导电迹线之间的染色或变色来证明。加速测试可以通过将电压增加到指定电压以上来完成。 (典型的起始点为 5Vdc 50mA)。
1.1 本测试方法用于确定薄膜开关在直流电压下对电路走线之间银迁移的敏感性。
1.2 当特殊的湿度和湿度条件下会发生银迁移。存在电能。
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