ASTM E2033-99(2006)由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 1999。
ASTM E2033-99(2006) 在中国标准分类中归属于: H26 金属无损检验方法。
* 在 ASTM E2033-99(2006) 发布之后有更新,请注意新发布标准的变化。
本实践中讨论的X、伽马射线探测器是存储荧光成像板,以下简称SPIP。 SPIP 是 CR 过程中的关键组成部分,它将 CR 与其他放射学方法区分开来。本实践的编写是为了在工程图纸、规范或合同上进行规定,并且必须辅以详细的程序(参见第 6 节和附件 A1 和附件 A2)。
1.1 本实践涵盖了计算机放射学 (CR) 的应用细节。 )使用穿透辐射探测器(存储荧光成像板(SPIP))发射光激励发光的过程进行检查。由于CR检查所涉及的技术和应用是多种多样的,因此这种做法无意于限制或限定,而是为了解决该技术的一般应用,从而促进其使用。有关更多信息和指导,请参阅指南 E 94 和 E 2007、术语 E 1316、实践 E 747 和 E 1025、21 CFR 1020.40 和 29 CFR 1910.96。
1.2 本实践中讨论的一般原则广泛适用于穿透辐射 CR 系统。然而,本文档是专门为 X 射线和伽马射线系统使用而编写的。其他 CR 系统,例如使用中子的系统,将涉及此类系统特有的设备和应用细节。本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题(如果有)。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。对于具体的安全声明,请参阅第 21 CFR 1020.40 和 29 CFR 1910.96.1.3 目的本附件与实践 E 2033 结合使用。它允许使用材料、部件的 CR 检验,并为其实施提供指导和组件(在合同文件中指定时)。本文描述的要求允许在新应用中使用 CR,并在可以获得检查覆盖范围、更大的吞吐量或改进的检查经济性时取代放射学,前提是可以证明令人满意的图像质量水平。
1.4 应用 本附件提供了指南实践 E 2033 中要求的书面程序。如果本附件中的要求与实践 E 2033 中的任何其他要求相冲突,则以本附件为准。本附件的要求旨在控制检查质量,而不是指定接受/拒绝标准。其他合同文件中提供了接受/拒绝标准。
1.5 目的本附件与实践 E 2033 一起使用。本附件包括 CR 检验服务的买方和供应商可能商定的特定应用细节。
1.6 应用本附件满足实践 E 2033 的要求。如果本附件与实践 E 2033 的任何其他要求相冲突,则以本附件为准。本附件的要求旨在控制检查质量,而不是指定零件的接受/拒绝标准。其他合同文件中提供了接受/拒绝标准。
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