ASTM E722-04
确定电子辐射强度试验用等效单能级中子流量的能级中中子能量流量能谱的特征的标准规程

Standard Practice for Characterizing Neutron Energy Fluence Spectra in Terms of an Equivalent Monoenergetic Neutron Fluence for Radiation-Hardness Testing of Electronics

被代替

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标准号

ASTM E722-04

发布

2004年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM E722-04e1

当前最新

ASTM E722-19

 

 

适用范围

1.1 本实践涵盖了用等效单能中子注量来表征源中子注量的程序。它适用于中子效应测试、测试规范的制定以及中子测试环境的表征。这些源可以具有宽的中子能谱，或者可以是能量高达20MeV的单能中子源。相关等效性是指对源光谱所入射的材料的某些物理特性的特定影响。为了实现这一目标，需要了解中子作为能量函数对感兴趣材料的特定性质的影响。在单能源的情况下，中子能量效应的急剧变化可能会限制本实践的有用性。
1.2 本实践以普遍适用于各种材料和来源的方式提出。由不同粒子（电子、中子、质子和重离子）引起的位移 () 之间的相关性超出了本实践的范围。在电子半导体器件的辐射硬度测试中，感兴趣的具体材料包括硅和砷化镓，中子源通常是测试和研究反应堆以及锎252辐照器。1.3所涉及的技术依赖于以下因素：（1）a中子源能谱的详细测定，以及 (2) 作为能量函数的中子退化（损伤）效应对特定材料特性的了解。
1.4 不需要提及的中子能谱的详细测定如果暴露条件可重复，则每次测试暴露都要重新进行。当不重复进行能谱测定时，每次测试暴露均应使用中子注量监测器。
1.5 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

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