DIN EN 60749-37:2008
半导体装置.机械和气候试验方法.第37部分:用加速计的电路板级落锤试验方法
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer (IEC 60749-37:2008); German version EN 60749-37:2008
- 标准号
- DIN EN 60749-37:2008
- 发布
- 2008年
- 发布单位
- 德国标准化学会
- 当前最新
- DIN EN 60749-37:2008
- 引用标准
- IEC 60749-10-2002 IEC 60749-20 IEC 60749-20-1