EN 14784-2:2005
无损检验.储磷成像板工业计算机射线照相.第2部分:用Χ射线和Υ射线检验金属材料的一般原则
Non-destructive testing - Industrial computed radiography with storage phosphor imaging plates - Part 2: General principles for testing of metallic materials using X-rays and gamma rays
EN 14784-2:2005 发布历史
EN 14784-2:2005由欧洲标准化委员会 IX-CEN 发布于 2005-09-27。
EN 14784-2:2005在国际标准分类中归属于: 19.100 无损检测。
本标准有修改采用的 中文版 GB/T 26642-2011 无损检测 金属材料计算机射线照相检测方法
EN 14784-2:2005 无损检验.储磷成像板工业计算机射线照相.第2部分:用Χ射线和Υ射线检验金属材料的一般原则的最新版本是哪一版？
最新版本是 EN 14784-2:2005 。
EN 14784-2:2005的历代版本如下：
- 2005年 EN 14784-2:2005 无损检验.储磷成像板工业计算机射线照相.第2部分:用Χ射线和Υ射线检验金属材料的一般原则
该欧洲标准规定了计算机放射线照相的基本技术，旨在经济地获得令人满意且可重复的结果。 这些技术基于该主题的基本理论和测试测量。 本文件规定了使用存储荧光成像板 (IP) 用于缺陷检测的工业计算 X 和伽马射线照相的一般规则。 它基于基于胶片的金属材料射线照相检查的一般原则（EN 444 和 ISO 5579）。 辐射源、探测器和相应几何形状的基本设置应按照以下协议应用：
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（5）适宜检测对接焊缝，检测角焊缝效果较差，不适宜检测板材、棒材、锻件 检测角焊缝的透照布置比较困难，摄得底片的黑度变化大，成像质量不够好；不适宜检验板材、棒材、锻件的原因是板材、锻件中的大部分缺陷与板平行，射线照相无法检出。此外棒材、锻件厚度较大，射线穿透比较困难，效果也不好。...