IEC 60749-23:2004
半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温操作寿命

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

被代替

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标准号: IEC 60749-23:2004
发布: 2004年
发布单位: 国际电工委员会
替代标准: IEC 60749-23:2011
当前最新: IEC 60749-23:2004/AMD1:2011

被代替标准: IEC 47/1735/FDIS:2003

该测试用于确定偏置条件和温度随时间对固态器件的影响。它以加速方式模拟设备运行状况，主要用于设备鉴定和可靠性监控。

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