ISO 11699-1:2008
无损检测.工业X射线照相底片.第1部分:工业X射线照相底片系列的分类
Non-destructive testing - Industrial radiographic film - Part 1: Classification of film systems for industrial radiography
- 标准号
- ISO 11699-1:2008
- 发布
- 2008年
- 中文版
- GB/T 19348.1-2014 (修改采用的中文版本)
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 当前最新
- ISO 11699-1:2008
- 引用标准
- ISO 11699-2 ISO/IEC 17025
- 适用范围
- ISO 11699 这一部分的目的是确定胶片系统的性能。 ISO 11699 的这一部分适用于工业射线照相（无损检测）中与指定铅屏相结合的胶片系统的分类。 ISO 11699 的这一部分旨在确保射线照片的图像质量（就其受胶片系统的影响而言）符合 ISO 5579、ISO 17636 和 EN 12681 等国际标准的要求。 ISO 11699 的一部分不适用于荧光增感屏使用的胶片的分类。 ISO 11699 这一部分中的胶片系统测量仅限于选定的辐射质量，以简化程序。 薄膜的性能会随着辐射能量的变化而变化，但薄膜系统质量的排序不会变化。 ISO 11699-2 中描述了评估照相过程的其他方法，通过该方法可以在工业给定的条件下控制胶片系统的性能。
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