GB/T 22319.8-2008
石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具
Measurement of quartz crystal unit parameters.Part 8:Test fixture for surface mounted quartz crystal units
GB/T 22319.8-2008 发布历史
GB/T 22319 的本部分规定了能精确测量无引线表面贴装石英晶体元件的谐振频率、谐振电阻及等效电路参数的测量夹具，测量方法采用IEC 60444-4-1988和IEC 60444-5-1995规定的零相位技术。 使用该测量夹具的等效电路和适用的频率范围见随后条款。 此外，本部分也适用于IEC 61240-1994中的无引线晶体元件外壳。测量夹具的等效电路和电参数都基于IEC 60444-1-1986和IEC 60444-4-1988。负载电容范围为10pF或更高。本部分还规定了测量系统和C片的校准。 本部分适用于能准确测量石英晶体元件的谐振频率、谐振电阻、并电容C、动态电容C和动态电感L的测量夹具，其频率范围为1MHz～150MHz,采用基于IEC 60444-5-1995的自动网络分析仪。
GB/T 22319.8-2008由国家质检总局 CN-GB 发布于 2008-08-06，并于 2009-01-01 实施。
GB/T 22319.8-2008 在中国标准分类中归属于: L21 石英晶体、压电元件，在国际标准分类中归属于: 31.140 频率控制和选择用压电器件与介质器件。
GB/T 22319.8-2008 发布之时，引用了标准
- IEC 61240-1994 压电器件 频率控制和选择用表面安装器件外形图制备 总则
- IEC 60444-1-1986 用π型网络零相位技术测量石英晶体元件参数 第1部分:用π型网络零相位技术测量石英晶体元件的谐振频率和谐振电阻的基本方法
- IEC 60444-2-1980 用π型网络零相位技术测量石英晶体元件参数 第2部分:测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法
- IEC 60444-5-1995 石英晶体元件参数的测量 第5部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法
GB/T 22319.8-2008的历代版本如下：
- 2008年08月06日 GB/T 22319.8-2008 石英晶体元件参数的测量.第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具
- 标准号
- GB/T 22319.8-2008
- 发布日期
- 2008年08月06日
- 实施日期
- 2009年01月01日
- 废止日期
- 无
- 中国标准分类号
- L21
- 国际标准分类号
- 31.140
- 发布单位
- CN-GB
- 引用标准
- IEC 61240-1994 IEC 60444-1-1986 IEC 60444-2-1980 IEC 60444-5-1995
- 适用范围
- GB/T 22319 的本部分规定了能精确测量无引线表面贴装石英晶体元件的谐振频率、谐振电阻及等效电路参数的测量夹具，测量方法采用IEC 60444-4-1988和IEC 60444-5-1995规定的零相位技术。
使用该测量夹具的等效电路和适用的频率范围见随后条款。
此外，本部分也适用于IEC 61240-1994中的无引线晶体元件外壳。测量夹具的等效电路和电参数都基于IEC 60444-1-1986和IEC 60444-4-1988。负载电容范围为10pF或更高。本部分还规定了测量系统和C
片的校准。 本部分适用于能准确测量石英晶体元件的谐振频率、谐振电阻、并电容C 、动态电容C 和动态电感L 的测量夹具，其频率范围为1MHz～150MHz,采用基于IEC 60444-5-1995的自动网络分析仪。