-2006 可靠性试验.恒定失效率和恒定失效强度的符合性试验BS EN 60749-30-2005+A1-2011 半导体装置.机械和气候耐受性试验方法.非密闭式表面安装设备可靠性试验前预处理BS EN 60749-30-2005 半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性测试之前非气密表面安装器件的预调试BS EN 62309-2004 含可再用部件的产品的可靠性.功能和试验的要求BS EN...
（3）典型电效应有：1）电气和电子元器件的变化；2）快速冷凝水或结霜引起电子或机械故障；3）静电过量。5、冷热冲击测试方法的类型根据IEC和国家标准，分为三种：1、试验Na:规定转换时间的快速温度变化；空气；2、试验Nb：规定变化速率的温度变化；空气；3、试验Nc：两液槽法快速温度变化；液体；上面3种试验，1、2以空气作为介质，第3种以液体（水或其它液体）作为介质。...
（3）典型电效应有：1）电气和电子元器件的变化；2）快速冷凝水或结霜引起电子或机械故障；3）静电过量。 5、冷热冲击测试方法的类型根据IEC和国家标准，分为三种：1、试验Na:规定转换时间的快速温度变化；空气；2、试验Nb：规定变化速率的温度变化；空气；3、试验Nc：两液槽法快速温度变化；液体； 上面3种试验，1、2以空气作为介质，第3种以液体（水或其它液体）作为介质。...
标准 国际标准国内对应标准适用介质转换时间1IEC 60068-2-14：2009《环境试验第2~14部分：试验方法试验N：温度变化》GB/T 2423.22-2012《环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化》元器件、部件、设备等各个组装等级空气3分钟以内或者更长2MIL-STD-810F 方法503.4：温度冲击试验GJB 150.-2009 《军用装备实验室环境试验方法第5部分：温度冲击试验...
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