ASTM F1663-09
测定薄膜开关电阻的标准试验方法
Standard Test Method for Determining the Capacitance of a Membrane Switch
ASTM F1663-09 发布历史
ASTM F1663-09由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2009。
ASTM F1663-09 在中国标准分类中归属于: K31 低压配电电器。
ASTM F1663-09的历代版本如下：
- 2015年 ASTM F1663-15 测定薄膜开关或印刷电子设备电流容量的标准试验方法
- 2009年 ASTM F1663-09 测定薄膜开关电阻的标准试验方法
- 1995年 ASTM F1663-95(2002) 测定薄膜开关电阻的标准试验方法
- 1995年 ASTM F1663-95 测定薄膜开关电阻的标准试验方法
电容测试对于设计验证、材料质量控制和工艺非常有用。高电容可能会干扰接口电子器件的可靠性能。测试的具体领域包括但不限于：导体/电介质/导体交叉点、导体的紧密接近以及任何其他导电表面，例如屏蔽或金属背板。
1.1 该测试方法涵盖了薄膜开关。
1.2 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。
