SANS 3497:2008
金属镀层.涂层厚度测量.X射线光谱法
Metallic coatings - Measurement of coating thickness - X-ray spectrometric methods
SANS 3497:2008 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- SANS 3497:2008
- 发布
- 2008年
- 发布单位
- ZA-SANS
- 当前最新
- SANS 3497:2008
- 规定了使用 X 射线光谱法测量金属涂层厚度的方法。测量方法从根本上来说是确定单位面积质量的方法。允许同时测量涂层系统
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