JIS C 60068-2-82:2009
环境试验.第2-82部分:试验.试验XW1:电子和电气元件用晶须试验方法

Environmental testing -- Part 2-82: Tests -- Test XW1: Whisker test methods for electronic and electric components

被代替

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标准号

JIS C 60068-2-82:2009

发布

2009年

发布单位

日本工业标准调查会

替代标准

JIS C 60068-2-82:2021

当前最新

JIS C 60068-2-82:2021

 

 

引用标准

IEC 61192-3-2002 IEC 61760-1-2006 JIS C 0025:1988 JIS C 60068-1:1993 JIS C 60068-2-20:1996 JIS C 60068-2-58:2006 JIS C 60068-2-78:2004

适用范围

本标准规定了代表锡或锡合金成品的电气或电子元件的晶须试验。

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