DIN EN 60747-16-3-2009
半导体装置.第16-3部分:微波集成电路.频率转换器(IEC 60747-16-3:2002 + A1;2009),德文版本 EN 60747-16-3:2002 + A1:2009

Semiconductor devices - Part 16-3: Microwave integrated circuits - Frequency converters (IEC 60747-16-3:2002 + A1:2009); German version EN 60747-16-3:2002 + A1:2009

DIN EN 60747-16-3-2009 发布历史

DIN EN 60747-16-3-2009由德国标准化学会 DE-DIN 发布于 2009-11，并于 2009-11-01 实施。

DIN EN 60747-16-3-2009 在中国标准分类中归属于: L56 半导体集成电路，在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。

DIN EN 60747-16-3-2009 发布之时，引用了标准

  • IEC 60617 简图用图形符号
  • IEC 60747-1-2006 半导体器件.第1部分:总则
  • IEC 60050-702-1992 国际电工词汇 第702章:振荡、信号和相关器件
  • IEC 60747-16-1-2001 半导体器件 第16-1部分：微波集成电路 放大器
  • IEC 61340-5-1-2007 静电学.第5-1部分:静电现象中电子装置的保护.一般要求
  • IEC/TR 61340-5-2-2007 静电学.第5-2部分:静电现象中电子设备的防护.用户指南
  • IEC 60748-2-1997 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
  • IEC 60748-3 半导体器件 集成电路 - 第3部分:模拟集成电路 - 第一部分:单片集成运算放大器的空白详细规范
  • IEC 60748-4 半导体器件 - 集成电路 - 第4-3部分:接口集成电路 - 模拟数字转换器（adc）的动态标准

DIN EN 60747-16-3-2009的历代版本如下：

  • 2009年11月 DIN EN 60747-16-3-2009 半导体装置.第16-3部分:微波集成电路.频率转换器(IEC 60747-16-3:2002 + A1;2009),德文版本 EN 60747-16-3:2002 + A1:2009
  • 1970年01月 DIN EN 60747-16-3-2018 半导体装置.第16-3部分:微波集成电路.频率转换器(IEC 60747-16-3-2002+A1-2009+ A2-2017);德文版本EN 60747-16-3-2002+A1-2009+A2-2017

 

 

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标准号
DIN EN 60747-16-3-2009
发布日期
2009年11月
实施日期
2009年11月01日
废止日期
无
中国标准分类号
L56
国际标准分类号
31.200
发布单位
DE-DIN
引用标准
IEC 60617 IEC 60747-1-2006 IEC 60050-702-1992 IEC 60747-16-1-2001 IEC 61340-5-1-2007 IEC/TR 61340-5-2-2007 IEC 60748-2-1997 IEC 60748-3 IEC 60748-4
被代替标准
DIN IEC 60747-16-3/A1-2007 DIN EN 60747-16-3-2003

DIN EN 60747-16-3-2009系列标准

DIN EN 60747-15-2012 分立半导体器件.第15部分:独立电力半导体器件(IEC 60747-15-2010).德文版本EN 60747-15-2012 DIN EN 60747-16-1-2007 半导体器件.第16-1部分:微波集成电路.放大器 DIN EN 60747-16-10-2005 半导体器件.第16-10部分:单片微波集成电路的技术验收计划 DIN EN 60747-16-4-2018 半导体器件.第16-4部分:微波集成电路.开关(IEC 60747-16-4-2004+A1-2009+A2-2017);德文版本EN 60747-16-4-2004+A1-2011+A2-2017 DIN EN 60747-16-5-2021 DIN EN 60747-5-1-2003 半导体分立器件和集成电路.第5-1部分:光电器件.总则 (IEC 60747-5-1:1997 + A1:2001 + A2:2002); 德文版本 EN 60747-5-1:2001 + A1:2002 + A2:2002 DIN EN 60747-5-2-2003 半导体分立器件和集成电路.第5-2部分:光电器件.基础额定值及特性 (IEC 60747-5-2:1997 + A1:2002); 德文版本 EN 60747-5-2:2001 + A1:2002 DIN EN 60747-5-3-2003 半导体分立器件和集成电路.第5-3部分:光电器件.测量方法 (IEC 60747-5-3:1997 + A1:2002); 德文版本 EN 60747-5-3:2001 + A1:2002 DIN EN 60747-5-5-2015 半导体设备.分离式元件.第5-5部分:光电元件.光融合元件(IEC 60747-5-5-2007+A1-2013);德文版本EN 60747-5-5-2011+A1-2015

DIN EN 60747-16-3-2009 中可能用到的仪器设备

碳硫分析仪（红外碳硫仪） 差示扫描量热仪(DSC/DTA) 实验室研磨机/研磨仪/粉碎机/球磨机 培养仪器/培养箱 凝胶/WB/CL成像系统 微生物鉴定及药敏分析系统

谁引用了DIN EN 60747-16-3-2009 更多引用

DIN EN 62751-1-2015 高压直流 (HVDC) 系统用电压源换流器 (VSC) 阀门的功率损耗. 第1部分: 通用要求 (IEC 62751-1-2014); 德文版本EN 62751-1-2014 DIN EN 62751-1-2015 高压直流 (HVDC) 系统用电压源换流器 (VSC) 阀门的功率损耗. 第1部分: 通用要求 (IEC 62751-1-2014); 德文版本EN 62751-1-2014


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