ASTM B826-09由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2009。
ASTM B826-09 在中国标准分类中归属于: H25 金属化学性能试验方法。
测试环境的腐蚀性监测提供了一种监测测试腐蚀性综合值的方法,而该综合值无法通过测试参数本身进行评估,例如温度、湿度和气体浓度。因此,监控值可用于规范目的,例如测试验证。对暴露于腐蚀性介质的导体进行电阻监测是一种行之有效的做法。 , , , 电阻法假设裸露金属导体段的整个表面均匀腐蚀。局部腐蚀(例如点蚀、缝隙或晶界腐蚀)可能会提供无效的测试腐蚀性估计。电阻比曲线斜率与时间的显着变化可能表明不期望的过程,这可能是由于测试气氛或监视器本身的缺陷造成的。由于形成钝化腐蚀膜时 RM 探针金属导体段上形成的腐蚀产物内扩散过程的限制,电阻监测可能无法用于长时间测试暴露的测试室监测目的。室监测依赖于检测 RM 腐蚀速率的变化,作为必须重新验证指定气体浓度的指示信号。然而,低腐蚀速率限制了腐蚀速率随试验条件变化的变化率的绝对值;对于抛物线薄膜生长过程,生长速率随着时间的推移而降低,限制了 RM 在延长测试时间时的灵敏度。由于腐蚀速率可能是 MFG 测试中测试参数的复杂函数,任何给定金属主要对 MFG 环境中的气体子集做出响应,因此需要不止一种类型的金属电阻探头来帮助维持相对气体浓度。对于此类测试规范,电阻比率值必须参考测试规范制定者提供的已知测试条件下获得的比率。有关各种金属对各种腐蚀剂的敏感性的信息已发表。 , RM 探头可用于腐蚀膜生长消耗的厚度的 1% 至 50% 的厚度。据报道,导体厚度在 25 nm 至 0.2 mm 之间,常见尺寸可在市场上买到。
1.1 本测试方法提供了一种监测涉及暴露于腐蚀性气体的环境测试的腐蚀性的方法。
1.2 该测试方法使用由所选金属导体制成的电阻监测器(RM)探头,其中一个导体段未被覆盖,以允许所选金属导体暴露于腐蚀性气体混合物中,第二个导体段被覆盖以保护该金属导体。部分免受腐蚀性气体混合物的直接攻击。覆盖的导体段为评估未覆盖的导体段的变化提供了参考。暴露部分的电阻与覆盖部分的电阻之比提供了对与腐蚀性气体测试环境反应形成不良导电腐蚀产物的金属导体的量的测量,从而提供了测试腐蚀性的测量。
1.3 通过选择适当的金属导体和初始金属厚度,电阻监测适用于广泛的测试条件。
1.4 该方法与测试方法 B808 的意图相似。
1.5 以 SI 单位表示的值应被视为标准值。本标准不包含其他计量单位。
1.6 本标准并不旨在解决与其......相关的所有安全问题(如果有的话)。
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