获取纳米颗粒定量化形貌信息,是科学家探讨纳米颗粒材料性能的重要科研途径,对于推动纳米颗粒材料创新颇为重要。扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)是表征纳米颗粒材料形貌的重要工具。然而,扫描电子显微镜和透射电子显微镜产生的图像会因较大的背景干扰和庞大的纳米颗粒数量,使获取纳米颗粒材料形貌信息变得困难。如何在海量而复杂的图像中实时准确地自动获取纳米颗粒定量化形貌信息成为挑战。...
易于检索 - 直观的硬件和软件控制界面预先设置了数据的收集和分析流程。集成平台- 与 PC、条形码读卡器和图像分析软件配套使用,可以轻松地收集样品信息,并传输到统计分析以及数据解析。只需单击 图像分析采集软件 即可分析来自大多数 1" x 3" (25mm x 75mm)玻片微阵列的数据。便捷的支持 - 安捷伦为您提供遍及全球的支持、服务以及培训。...
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