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一、概论X 射线荧光光谱法是一个相对分析方法,任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性;用于制作校准曲线的标准样品和分析样品必须经过同样的制样处理过程。 X 射线荧光实际上又是一个表面分析方法,激发只发生在试样的浅表面,必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性。此外,样品的平均粒度和粒度分布是否有变化,样品中是否存在不均匀的多孔状态等。...
粒度分析.激光衍射方法 BS ISO 13320-1-2000 粒度分析.激光衍射方法.一般规则 美国材料与试验协会,关于激光粒度仪 方法的标准 ASTM D4464-2010 用的激光散射法测定催化材料粒度分布的标准试验方法 ASTM C1070-2001 用激光扩散法测定氧化铝和石英粒度分布的试验方法 ASTM C1070-2001(2014) 用激光扩散法测定氧化铝和石英粒度分布的标准试验方法...
一、概论X 射线荧光光谱法是一个相对分析方法,任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性;用于制作校准曲线的标准样品和分析样品必须经过同样的制样处理过程。X 射线荧光实际上又是一个表面分析方法,激发只发生在试样的浅表面,必须注意分析面相对于整个样品是否有代表性。此外,样品的平均粒度和粒度分布是否有变化,样品中是否存在不均匀的多孔状态等。...
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