ASTM E668-10
测定电子设备在辐射硬度试验中的吸收剂量用热致发光-剂量测定法(TLD)的标准应用规程

Standard Practice for Application of Thermoluminescence-Dosimetry (TLD) Systems for Determining Absorbed Dose in Radiation-Hardness Testing of Electronic Devices


哪些标准引用了ASTM E668-10

 

ASTM E2450-23 混合中子光子环境中CaF＜inf＞2ASTM E665-94 使用材料中的吸收剂量与深度来验证闪光 X 射线机的 X 射线输出的实践（2000 年撤回）ASTM E1027-92 聚合材料暴露于电离辐射的实践（1996 年撤回）ASTM E666-21 从伽马或X辐射计算吸收剂量的标准实践ASTM E1249-15(2021) 使用Co-60源的硅电子器件的辐射硬度测试中最小化剂量误差的标准实践ASTM E1819-15(2021) 核设施退役环境监测计划标准指南ASTM E1250-15(2020) 电子元件应用评估硅电子器件辐射硬度测试中使用的钴-60型辐射器的低能伽马元件的标准测试方法ASTM E1854-19 确保电子零件中子诱发位移损伤试验一致性的标准实施规程ASTM ISO/ASTM 51631-20 电子束中剂量测量和常规剂量测定系统校准用量热剂量测定系统的使用标准实施规程ASTM E1894-18 脉冲X射线源用剂量测定系统选择的标准指南ASTM F1893-18 电离剂量生存率和半导体器件烧坏测量指南ASTM F1190-18 中子照射无偏电子元件的标准指南ASTM F996-11(2018) 用亚阈电流–将电离辐射引起的MOSFET阈值电压偏移分离为由于氧化物陷阱空穴和界面状态引起的元件的标准试验方法；电压特性ASTM F1892-12(2018) 半导体器件电离辐射（总剂量）效应试验标准指南ASTM F448-18 测量稳态初级光电流的标准测试方法ASTM F1467-18 使用X射线测试仪的标准指南（ASTM F773M-16 线性集成电路的剂量率响应测量的标准实施规程 (米制)ASTM F744M-16 测量数字集成电路 (米制) 混乱用剂量率阀值的标准试验方法ASTM E2450-16 在混合中子光子环境中应用CaF2 (Mn) 热释光剂量计的标准实施规程ASTM E1250-15 评定硅电子器件辐射强度试验用钴60辐射源的低能伽马成分的电离箱应用的标准试验方法ASTM E1249-15 使用Co-60源实现硅电子设备辐射硬性试验的剂量测定错误最小化的标准实施规程ASTM E1819-15 核设施退役环境监控计划的标准指南ASTM F1262M-14 数字集成电路瞬态辐射不稳定阈值测试标准指南ASTM E666-14 计算伽马或X辐射吸收剂量的标准实施规程ISO/ASTM 51401:2013 重铬酸盐剂量测定系统的使用规程ISO/ASTM 51956:2013 辐射加工用热致发光剂量测定(TLD系统)系统使用规程ASTM E1026-13 使用弗里克剂量测定系统的标准实施规范ASTM E1894-13a 选择脉冲X射线源用的剂量测定系统的标准指南ASTM ISO/ASTM 51631-13 电子束中剂量测量和常规剂量测定系统校准用量热剂量测定系统的使用标准实施规程ASTM E1854-13 确保电子部件的中子引起的位移损伤试验一致性的标准实施规程ASTM F1892-12 半导体器件电离辐射 (总剂量) 效应试验的标准指南ASTM F448-11 测量稳态初级光电流的标准试验方法ASTM E2450-11 中子光子混合环境中CaF2(锰)热发光剂量计应用的标准操作规程ASTM F1467-11 半导体装置及集成电路电离辐射效应X射线测试仪(≈10 keV光子量)的标准使用指南ASTM F1893-11 测量半导体器件电离剂量率存活性和烧断的指南ASTM F996-11 利用次临界伏安特性测定由于氧化空穴和界面性能产生的电离辐射感生金属氧化物半导体场应晶体管临界电压偏移分量的标准试验方法ASTM F1190-11 无偏电子元件中子辐照的标准指南ASTM E1249-10 用钴60源以最大程度上减少硅电子装置辐射强度试验的剂量测定误差的标准操作规程GB/T 16639-2008 使用丙氨酸-EPR剂量测量系统的标准方法GB/T 139-2008 使用硫酸亚铁剂量计测量水中吸收剂量的标准方法GB/T 15447-2008 X、γ射线和电子束辐照不同材料吸收剂量的换算方法GB/T 16640-2008 辐射加工剂量测量系统的选择和校准导则ASTM E1026-04e1 使用弗里克标准剂量测定系统的标准实施规范ASTM E1819-96(2005) 核设备退役的环境监测计划标准指南ASTM E1540-98e1 ASTM E1540-98e1ASTM E1275-98e1 ASTM E1275-98e1ASTM E1538-99e1 ASTM E1538-99e1ASTM E1956-98 ASTM E1956-98ASTM E1702-00 ASTM E1702-00ASTM E1261-00 ASTM E1261-00ASTM E1431-98e1 ASTM E1431-98e1ASTM E1940-98 ASTM E1940-98ASTM F675-91 ASTM F675-91ASTM E1205-99 ASTM E1205-99ASTM E1649-00 ASTM E1649-00ASTM E1401-96e1 ASTM E1401-96e1ASTM E1939-98 ASTM E1939-98ASTM F448M-94 ASTM F448M-94ASTM E1204-97e1 ASTM E1204-97e1ASTM E1631-96e1 ASTM E1631-96e1ASTM E1310-98e1 ASTM E1310-98e1ASTM E1900-97 ASTM E1900-97ASTM E1607-96e1 ASTM E1607-96e1ASTM E845-81 ASTM E845-81ASTM F867M-94a ASTM F867M-94aASTM E1276-96e1 ASTM E1276-96e1
标准号
ASTM E668-10
发布
2010年
发布单位
美国材料与试验协会
替代标准
ASTM E668-13
当前最新
ASTM E668-20
 
 
材料中的吸收剂量是一个重要参数，它与暴露于电离辐射的电子元件和设备中产生的辐射效应相关。如果可以获得源辐射场（即能谱和粒子注量）的知识，则可以计算该参数的合理估计。通常无法获得有关辐射场的足够详细的信息。然而，在辐射测试设施中使用无源剂量计测量吸收剂量可以提供信息，从中可以推断出感兴趣材料中的吸收剂量。在某些规定条件下，TLD 非常适合执行此类测量。注 28...

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ASTM E2450-23 混合中子光子环境中CaF＜inf＞2 ASTM E665-94 使用材料中的吸收剂量与深度来验证闪光 X 射线机的 X 射线输出的实践（2000 年撤回） ASTM E1027-92 聚合材料暴露于电离辐射的实践（1996 年撤回） ASTM E666-21 从伽马或X辐射计算吸收剂量的标准实践 ASTM E1249-15(2021) 使用Co-60源的硅电子器件的辐射硬度测试中最小化剂量误差的标准实践 ASTM E1819-15(2021) 核设施退役环境监测计划标准指南 ASTM E1250-15(2020) 电子元件应用评估硅电子器件辐射硬度测试中使用的钴-60型辐射器的低能伽马元件的标准测试方法 ASTM E1854-19 确保电子零件中子诱发位移损伤试验一致性的标准实施规程 ASTM ISO/ASTM 51631-20 电子束中剂量测量和常规剂量测定系统校准用量热剂量测定系统的使用标准实施规程 ASTM E1894-18 脉冲X射线源用剂量测定系统选择的标准指南


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