ASTM B588-88(2010)
双束干涉显微技术测量透明涂层或不透明涂层厚度的标准试验方法

Standard Test Method for Measurement of Thickness of Transparent or Opaque Coatings by Double-Beam Interference Microscope Technique

2016-01

ASTM B588-88(2010) 发布历史

ASTM B588-88(2010)由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 1988,于 2016-01-01 废止。

ASTM B588-88(2010) 在中国标准分类中归属于: A29 材料防护,在国际标准分类中归属于: 17.040.20 表面特征。

ASTM B588-88(2010) 发布之时,引用了标准

  • ASTM B504 用库仑法测量金属镀层厚度的标准试验方法*2023-05-01 更新

* 在 ASTM B588-88(2010) 发布之后有更新,请注意新发布标准的变化。

ASTM B588-88(2010)的历代版本如下:

  • 1988年 ASTM B588-88(2010) 双束干涉显微技术测量透明涂层或不透明涂层厚度的标准试验方法
  • 1988年 ASTM B588-88(2006) 用双束干涉显微技术测量透明涂层或不透明涂层厚度的试验方法
  • 1988年 ASTM B588-88(2001) 用双光束干涉显微镜技术测量透明或不透明涂层厚度的标准试验方法
  • 1988年 ASTM B588-88(1994) 用双束干涉显微技术测量透明涂层或不透明涂层厚度的试验方法

 

涂层的厚度通常对其性能至关重要。对于某些涂层-基体组合,干涉显微镜方法是测量涂层厚度的可靠方法。本测试方法适用于规范验收。

1.1 本测试方法涵盖利用双光束干涉显微镜测量透明金属氧化物和金属涂层的厚度。

1.2 测试方法要求样品表面足够镜面以形成可识别的条纹。

1.3 本测试方法可无损测量1至10%的m 厚的透明涂层,例如铝上的阳极涂层。该测试方法破坏性地用于0.1至10微米厚的不透明涂层,通过剥离涂层的一部分并测量涂层和暴露的基材之间的台阶高度。剥离法还可用于测量铝上 0.2 至 10 米厚的阳极涂层。

1.4 当该技术包括在不侵蚀基材的情况下完全剥离部分涂层时,该测试方法可用作测量铝或金属涂层上阳极膜厚度的参考方法。对于铝上的阳极膜,厚度必须大于0.4米;不确定性可高达 0.2 μm。对于金属涂层,厚度必须大于0.25微米;不确定性可高达 0.1 μm。

1.5 以 SI 单位表示的值应被视为标准值。本标准不包含其他计量单位。

1.6 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题(如果有)。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

ASTM B588-88(2010)

标准号
ASTM B588-88(2010)
发布
1988年
发布单位
美国材料与试验协会
当前最新
ASTM B588-88(2010)
 
 
引用标准
ASTM B504

推荐





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号