IEC 62415:2010
半导体器件.恒定电流电迁移试验

Semiconductor devices - Constant current electromigration test

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标准号: IEC 62415:2010
发布: 2010年
发布单位: 国际电工委员会
当前最新: IEC 62415:2010

适用范围: 该标准描述了金属线、通孔串和触点的常规恒流电迁移测试方法。

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