ASTM E175-82(2010)
显微镜的标准术语
Standard Terminology of Microscopy
ASTM E175-82(2010) 发布历史
ASTM E175-82(2010)由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 1982。
ASTM E175-82(2010) 在中国标准分类中归属于: N32 放大镜与显微镜，在国际标准分类中归属于: 01.040.37 成像技术 (词汇),37.020 光学设备。
ASTM E175-82(2010)的历代版本如下：
- 1982年 ASTM E175-82(2010) 显微镜的标准术语
- 1982年 ASTM E175-82(2005)e1 显微镜学的标准术语
- 1982年 ASTM E175-82(1999)e1 显微镜学标准术语
