GB/T 26074-2010
锗单晶电阻率直流四探针测量方法

Germanium monocrystal.Measurement of resistivity-DC linear four-point probe

GB/T 26074-2010 中，可能用到以下仪器设备

 

多功能粉末X射线衍射仪

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英国马尔文仪器有限公司

 

反射模式样品进样器（粉末衍射）

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布鲁克 D8 D8 ADVANCE 达芬奇 X射线衍射仪

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布鲁克 LYNXEYE XE 能量色散型一维阵列探测器

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D8 DISCOVER X 射线衍射系统

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NDJ系列旋转粘度计

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天美仪拓实验室设备（上海）有限公司

 

机械式粘度计

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上海舜宇恒平科学仪器有限公司

 

数字式粘度计

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上海舜宇恒平科学仪器有限公司

 

旋转粘度计

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上海人和科学仪器有限公司

 

润滑油低温布氏粘度测定仪

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山东盛泰仪器有限公司

 

布氏粘度计

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广州领拓仪器科技有限公司

 

XtaLAB P200 小分子单晶X射线分析装置

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岛津MAXima_X XRD-7000X射线衍射仪

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XD-2/XD-3/XD-6 自动X射线粉末衍射仪

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岛津X射线衍射仪XRD-6000

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OneSight一维高速检测器用于XRD-6100和XRD-7000

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SuperNova微焦斑单晶衍射仪

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Xcalibur E X射线单晶衍射仪

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Gemini A Ultra 双光源X射线单晶衍射仪

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XRD-6100型X射线衍射仪

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x射线粉末衍射仪 D/MAX 2000

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理学 全新智能型X射线衍射仪 NEW SmartLab

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理学 MiniFlex 600 X射线粉末衍射仪

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理学 单晶X射线衍射仪-XtaLAB PRO

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帕纳科Empyrean 锐影 智能X射线衍射仪

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XPert Pro MRD高分辨衍射仪

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ARL EQUINOX 1000 X射线粉末衍射仪

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ARL EQUINOX 100便携台式X射线衍射仪

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帕纳科Aeris台式X射线衍射仪

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EXPLORER 多功能X射线衍射仪

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ARL EQUNINX 3000/3500 粉末X射线衍射仪

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GB/T 26074-2010

标准号
GB/T 26074-2010
发布日期
2011年01月10日
实施日期
2011年10月01日
废止日期
无
中国标准分类号
H17
国际标准分类号
77.040.99
发布单位
CN-GB
适用范围
本标准规定了用直流四探针法测量锗单晶电阻率的方法。 本标准适用于测量试样厚度和从试样边缘与任一探针端点的最近距离二者均大于探针间距的4倍锗单晶的电阻率及测量直径大于探针间距的10倍、厚度小于探针间距4倍锗单晶圆片的电阻率。测量范围为1×10-3Ω•cm～1×102Ω•cm。

GB/T 26074-2010系列标准

GB/T 26069-2022 硅单晶退火片 GB/T 26070-2010 化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法 GB/T 26071-2018 太阳能电池用硅单晶片 GB/T 26072-2010 太阳能电池用锗单晶 GB/T 26073-2010 有毒与可燃性气体检测系统安全评价导则 GB/T 26079-2010 梁式吊具 GB/T 26078-2010(英文版) GB/T 26077-2021 金属材料 疲劳试验 轴向应变控制方法 GB/T 26076-2010 金属薄板（带）轴向力控制疲劳试验方法 GB/T 26075-2019 抽油杆用圆钢

GB/T 26074-2010 中可能用到的仪器设备

X射线衍射仪(XRD) 粘度计

谁引用了GB/T 26074-2010 更多引用

GB/T 26072-2010 太阳能电池用锗单晶 GB/T 30984.2-2014 太阳能用玻璃 第2部分:透明导电氧化物膜玻璃


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