ISO 10110-8:2010
光学和光学仪器.光学元件和系统制图准备.第8部分:表面结构,粗糙度和波状起伏
Optics and photonics - Preparation of drawings for optical elements and systems - Part 8: Surface texture; roughness and waviness
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- 标准号
- ISO 10110-8:2010
- 发布
- 2010年
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 替代标准
- ISO 10110-8:2019
- 当前最新
- ISO 10110-8:2019
- 引用标准
- ISO 1302:2002 ISO 4287:1997
- ISO 10110 规定了用于制造和检验的技术图纸中光学元件的设计和功能要求的表示。 ISO 10110的本部分规定了光学元件表面纹理的指示规则。 表面纹理是可以用统计方法有效描述的表面特征。 通常，表面纹理与高空间频率误差（粗糙度）和中空间频率误差（波纹度）相关。 ISO 10110 的这一部分主要用于抛光光学器件的规范。 ISO 10110 的这一...
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