DIN EN 62418-2010
半导体器件.金属化应力空隙试验(IEC 62418-2010);德文版本EN 62418-2010

Semiconductor devices - Metallization stress void test (IEC 62418:2010); German version EN 62418:2010

DIN EN 62418-2010 发布历史

DIN EN 62418-2010由德国标准化学会 DE-DIN 发布于 2010-12，并于 2010-12-01 实施。

DIN EN 62418-2010 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合，在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。

DIN EN 62418-2010的历代版本如下：

• 2010年12月 DIN EN 62418-2010 半导体器件.金属化应力空隙试验(IEC 62418-2010);德文版本EN 62418-2010

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标准号

DIN EN 62418-2010

发布日期

2010年12月

实施日期

2010年12月01日

废止日期

无

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

25.220.40;31.080.01

发布单位

DE-DIN