IEC 60749-23:2011
半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温下的工作寿命
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
说明：
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- 标准号
- IEC 60749-23:2011
- 发布
- 2011年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 替代标准
- IEC 60749-23:2004/AMD1:2011
- 当前最新
- IEC 60749-23:2004/AMD1:2011
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