IEC 60749-30 AMD 1-2011
半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:先于可靠性测试的非密封性表面贴装设备的预处理

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing

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标准号

IEC 60749-30 AMD 1-2011

发布日期

2011年05月

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

IX-IEC

被代替标准

IEC 47/2019/CDV-2009

IEC 60749-30 AMD 1-2011 中可能用到的仪器设备