ASTM F1263-11
电子元件辐射试验中超量试验数据分析的标准指南
Standard Guide for Analysis of Overtest Data in Radiation Testing of Electronic Parts
- 标准号
- ASTM F1263-11
- 发布
- 2011年
- 发布单位
- 美国材料与试验协会
- 替代标准
- ASTM F1263-11(2019)
- 当前最新
- ASTM F1263-11(2019)
- 引用标准
- MIL-PRF-19500 MIL-PRF-38535
- 适用范围
- 当（a）由于时间和成本考虑，或者因为无法足够准确地估计失效应力的概率分布，并且（b）必须测试不切实际的大量零件时，应进行过度测试1.1 本指南涵盖了过度测试的使用，以减少为满足给定质量验收标准而必须进行测试的所需零件数量。过度测试是在高于其规格应力的应力水平下测试零件的样本数量，以减少必要的数据采集量。本指南讨论了何时以及如何应用过度测试来形成对遭受辐射应力的电子零件的生存概率估计。尽管精确的知识可能会被对该分布的过度保守估计所取代，但对控制零件失效应力的概率分布的一些了解是必要的。