静态二次离子质谱法中相对强度范围的重复性和稳定性 英国标准学会,关于质谱中相对强度的标准 BS ISO 17862-2013 表面化学分析.次级离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析器强度标的线性 BS ISO 17862-2013 表面化学分析.次级离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析器强度标的线性 BS ISO 23830-2008 表面化学分析.次级离子质谱法.静态次级离子质谱法中相对强度数值范围的重复性和稳定性...
属于这类仪器的有线振质谱计、四极质谱计、单极质谱计和三维四极离子阱。 3.离子检测器:通常用直接电测法(法拉第筒)或二次效应电测法(二次电子倍增器)检测已按质荷比分类的离子流并用电学方法记录下来。当用改变分析场参数的方法进行“质量扫描”时,就可以得到与被分析气体成分相对应的质谱图。 对真空质谱计的基本要求是:(1)探头具有小的容积和内表面,能烘烤除气,对待测的真空状态影响小。...
(2) 飞行时间二次离子质谱法(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS) 是通过用一次离子激发样品表面,打出极其微量的二次离子,根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量的极高分辨率的测量技术。 ...
(2) 飞行时间二次离子质谱法(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS)是通过用一次离子激发样品表面,打出极其微量的二次离子,根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量的极高分辨率的测量技术。 ...
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