2、温度冲击测试的目的温度冲击试验的目的：工程研制阶段可用于发现产品的设计和工艺缺陷；产品定型或设计鉴定和量产阶段用于验证产品对温度冲击环境的适应性，为设计定型和量产验收决策提供依据；作为环境应力筛选应用时，目的是剔除产品的早期故障。 3、温度冲击的应用电子设备和元器件中发生温度变化的情况很普遍。当设备未通电时，其内部零件要比其外表面上的零件经受的温度变化慢。 ...
（3）典型电效应有：1）电气和电子元器件的变化；2）快速冷凝水或结霜引起电子或机械故障；3）静电过量。5、冷热冲击测试方法的类型根据IEC和国家标准，分为三种：1、试验Na:规定转换时间的快速温度变化；空气；2、试验Nb：规定变化速率的温度变化；空气；3、试验Nc：两液槽法快速温度变化；液体；上面3种试验，1、2以空气作为介质，第3种以液体（水或其它液体）作为介质。...
（3）典型电效应有：1）电气和电子元器件的变化；2）快速冷凝水或结霜引起电子或机械故障；3）静电过量。 5、冷热冲击测试方法的类型根据IEC和国家标准，分为三种：1、试验Na:规定转换时间的快速温度变化；空气；2、试验Nb：规定变化速率的温度变化；空气；3、试验Nc：两液槽法快速温度变化；液体； 上面3种试验，1、2以空气作为介质，第3种以液体（水或其它液体）作为介质。...
温度变化原因有很多，相关标准里面都有提及：GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分 试验N:温度变化3 温度变化的现场条件电子设备和元器件中发生温度变化的情况很普遍。当设备未通电时，其内部零件要比其外表面上的零件经受的温度变化慢。...
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