ISO 13067:2011
微光束分析.电子反向散射衍射.平均粒度测量
Microbeam analysis - Electron backscatter diffraction - Measurement of average grain size
- 标准号
- ISO 13067:2011
- 发布
- 2011年
- 中文版
- GB/T 38532-2020 (等同采用的中文版本)
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 替代标准
- ISO 13067:2020
- 当前最新
- ISO 13067:2020
- 引用标准
- ISO 16700 ISO 21748 ISO 23833 ISO 24173:2009 ISO/IEC 17025
- 适用范围
- 本国际标准描述了使用电子背散射衍射 (EBSD) 测量二维抛光横截面平均晶粒尺寸的程序。 这需要测量取向、取向错误和图案品质因数作为晶体样本中位置的函数[1]。 注 1：虽然使用光学显微镜确定晶粒尺寸的传统方法已经很成熟，但 EBSD 方法比这些技术具有许多优点，包括增加的空间分辨率和晶粒方向的定量描述。 该方法还适用于测量复杂材料的晶粒尺寸，例如那些具有注释 2 的显着双相含量的材料。 警告读者在尝试研究具有高注释 3 变形水平的样本时要小心解释结果。
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