DIN EN 61967-8-2012
集成电路.电磁辐射的测量.第8部分:辐射发射的测量.集成电路条状线方法(IEC 61967-8-2011).德文版本 EN 61967-8-2011

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method (IEC 61967-8:2011); German version EN 61967-8:2011

DIN EN 61967-8-2012 发布历史

DIN EN 61967-8-2012由德国标准化学会 DE-DIN 发布于 2012-04，并于 2012-04-01 实施。

DIN EN 61967-8-2012 在中国标准分类中归属于: L56 半导体集成电路，在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。

DIN EN 61967-8-2012的历代版本如下：

  • 2012年04月 DIN EN 61967-8-2012 集成电路.电磁辐射的测量.第8部分:辐射发射的测量.集成电路条状线方法(IEC 61967-8-2011).德文版本 EN 61967-8-2011

 

 

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标准号
DIN EN 61967-8-2012
发布日期
2012年04月
实施日期
2012年04月01日
废止日期
无
中国标准分类号
L56
国际标准分类号
31.200
发布单位
DE-DIN
被代替标准
DIN IEC 61967-8-2009

DIN EN 61967-8-2012系列标准

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