QJ 832B-2011
航天用多层印制电路板试验方法

Test method of multilayer printed board for aeropace


QJ 832B-2011 中,可能用到以下仪器设备

 

天瑞Thick800A X荧光镀层测厚仪

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江苏天瑞仪器股份有限公司

 

天瑞Thick 600 X荧光镀层测厚仪

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江苏天瑞仪器股份有限公司

 

GC-4008B型煤矿实验室用气相色谱仪

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北京东西分析仪器有限公司

 

 PVD/CVD涂层(镀层)磨损率测试仪

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安东帕(上海)商贸有限公司

 

比表面和孔隙分析仪BELSORP-max II

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大昌华嘉科学仪器

 

Compact eco德国Roentgenanalytik-X射线镀层测厚仪

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牛津仪器(上海)有限公司

 

V-Sorb 2800S 容量法比表面积测试仪

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北京国仪精测技术有限公司

 

 F-Sorb 1400CE比表面积分析仪

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北京国仪精测技术有限公司

 

韩国ISP镀层厚度分析仪iEDX-150AT

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深圳市善时仪器有限公司

 

X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪

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日立分析仪器(上海)有限公司

 

ASAP 2060全自动比表面与孔隙度分析仪

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麦克默瑞提克(上海)仪器有限公司

 

全自动快速比表面积与孔隙度分析仪 Gemini VII 2390系列

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麦克默瑞提克(上海)仪器有限公司

 

ASAP 2460系列多站扩展式全自动比表面积与孔隙度分析仪

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麦克默瑞提克(上海)仪器有限公司

 

贝克曼库尔特SA3100比表面积及孔隙分析仪

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贝克曼库尔特商贸(中国)有限公司

 

默克Integritest 5完整性测试仪

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默克工艺解决方案Merck

 

牛津仪器OPAL原子层沉积系统(ALD)

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牛津仪器(上海)有限公司

 

QJ 832B-2011



标准号
QJ 832B-2011
发布日期
2011年07月19日
实施日期
2011年10月01日
废止日期
中国标准分类号
L30
发布单位
CN-QJ
引用标准
GB/T 2036 GB/T 2423.17 GB/T 3131-2001 GB/T 4677-2002 GB/T 5230-1995 GB/T 9491-2002 GJB 360A-1996 GJB 4057-2000 QJ 831B-2011 QJ 1719 QJ 2776 QJ 3103
被代替标准
QJ 832A-1998
适用范围
本标准规定了航天用刚性多层印制电路板的试验方法。 本标准适用于刚性多层印制电路板的各类试验和检验。

QJ 832B-2011 中可能用到的仪器设备


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