DIN IEC/TS 61967-3-2012
集成电路. 电磁辐射的测量. 第3部分: 辐射发射的测量. 表面扫描法. 集成电路(IEC 47A/880/CD-2012)

Integrated Circuits - Measurement of Electromagnetic Emissions - Part 3: Measurement of radiated emissions - Surface scan methodIntegrated circuits (IEC 47A/880/CD:2012)

DIN IEC/TS 61967-3-2012 发布历史

DIN IEC/TS 61967-3-2012由德国标准化学会 DE-DIN 发布于 2012-05。

DIN IEC/TS 61967-3-2012 在中国标准分类中归属于: L56 半导体集成电路，在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。

DIN IEC/TS 61967-3-2012的历代版本如下：

• 2012年05月 DIN IEC/TS 61967-3-2012 集成电路. 电磁辐射的测量. 第3部分: 辐射发射的测量. 表面扫描法. 集成电路(IEC 47A/880/CD-2012)
• 2015年08月 DIN IEC/TS 61967-3-2015 集成电路. 电磁辐射的测量. 第3部分: 辐射发射的测量. 表面扫描法(IEC/TS 61967-3-2014)

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标准号

DIN IEC/TS 61967-3-2012

发布日期

2012年05月

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L56

国际标准分类号

31.200

发布单位

DE-DIN