GJB 3522A-2011
氧化铍陶瓷规范
Specification for beryllia ceramics
GJB 3522A-2011 发布历史
本规范规定了微电子器件、光电器件、电真空器件、电阻基体等用氧化铍陶瓷的要求、质量保证规定、交货准备等。 其他电子和电气元件用氧化铍陶瓷可参照使用。
GJB 3522A-2011由国家军用标准-总装备部 CN-GJB-Z 发布于 2011-12-25，并于 2012-04-01 实施。
GJB 3522A-2011 在中国标准分类中归属于: K48 绝缘子。
GJB 3522A-2011 发布之时，引用了标准
- GB/T 191-2008 包装储运图示标志
- GB/T 1958 产品几何技术规范（GPS) 几何公差 检测与验证*， 2017-11-01 更新
- GB/T 2413 压电陶瓷材料体积密度测量方法
- GB/T 5593 电子元器件结构陶瓷材料*， 2015-05-15 更新
- GB/T 5594.1 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法
- GB/T 5594.3 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方法*， 2015-05-15 更新
- GB/T 5594.4 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法*， 2015-05-15 更新
- GB/T 5594.5 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法
- GB/T 5594.6 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分:化学稳定性测试方法*， 2015-05-15 更新
- GB/T 5594.7 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分:透液性测定方法*， 2015-05-15 更新
- GB/T 5597 固体电介质微波复介电常数的测试方法
- GB/T 6394 金属平均晶粒度测定方法*， 2017-02-28 更新
- GB/T 9530 电子陶瓷名词术语
- GB/T 9531.1 电子陶瓷零件技术条件
- GB/T 10610 产品几何技术规范(GPS).表面结构.轮廓法.评定表面结构的规则和方法
- GB/T 18791-2002 电子和电气陶瓷性能试验方法
- GJB 179A-1996 计数抽样检验程序及表
- GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法
- GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序
- SJ/T 3326 陶瓷-金属封接抗拉强度测试方法*， 2016-01-15 更新
* 在 GJB 3522A-2011 发布之后有更新，请注意新发布标准的变化。
GJB 3522A-2011的历代版本如下：
- 2011年12月25日 GJB 3522A-2011 氧化铍陶瓷规范
- 标准号
- GJB 3522A-2011
- 发布日期
- 2011年12月25日
- 实施日期
- 2012年04月01日
- 废止日期
- 无
- 中国标准分类号
- K48
- 发布单位
- 国家军用标准-总装备部
- 引用标准
- GB/T 191-2008 GB/T 1958 GB/T 2413 GB/T 5593 GB/T 5594.1 GB/T 5594.3 GB/T 5594.4 GB/T 5594.5 GB/T 5594.6 GB/T 5594.7 GB/T 5597 GB/T 6394 GB/T 9530 GB/T 9531.1 GB/T 10610 GB/T 18791-2002 GJB 179A-1996 GJB 360B-2009 GJB 546 GJB 548B-2005 SJ/T 3326
- 适用范围
- 本规范规定了微电子器件、光电器件、电真空器件、电阻基体等用氧化铍陶瓷的要求、质量保证规定、交货准备等。 其他电子和电气元件用氧化铍陶瓷可参照使用。