涂层厚度的测量方法主要有楔切法、光学截断法、电解法、厚度差测量法、称重法、x射线荧光法、射线背散射法、电容法、磁性测量法和涡流测量法。前五种方法都是有损检测,测量手段繁琐、速度慢,更适合抽样检查。 EXF镀层测厚仪采用X荧光分析技术,可测量各种金属涂层的厚度,包括单层、双层、多层、合金涂层等。EXF涂层测厚仪是一种能谱分析方法,属于物理分析方法。...
X射线荧光(XRF)光谱学是一种用于确定材料元素组成的非破坏性分析技术。XRF分析仪的工作原理是测量样本在被初级X射线源激发时发出的荧光(或次级)X射线。样本含有的每一种元素都会产生一组特征性荧光X射线,或独特的“指纹”。每种元素产生的“指纹”各不相同,使XRF分析成为定量和定性测量的绝佳工具。(在钢铁制造中,XRF用于分析原材料、炉渣和合金。)...
X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,已达到要求的轧制厚度。 无损涂层测厚仪分为磁性和涡流两种,也有磁性涡流二合一两用型的。常用于测量底材是金属的表面镀层的厚度,所以也叫做镀层测厚仪。...
长期以来,油漆及电镀厂都依靠牛津仪器涂层厚度测量仪来精确控制他们的涂镀层工艺。今天,牛津仪器带来四款最新便携式测厚仪,专为质保及质检人员快速、可信、无损地测量金属基底上的各种涂层厚度设计,包括油漆、清漆、环氧基树脂、有机涂层、锌、铬和其他金属镀层。 CMI155和CMI157是用于快速检测的小巧手持型仪器。...
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