DS/EN ISO 5436-1-2000

Geometrical product specifications (GPS) - Surface texture: Profile method; Measurement standards - Part 1: Material measures

DS/EN ISO 5436-1-2000 发布历史

This International Standard specifies the characteristics of material measures used as measurement standards (etalon) for the calibration of metrological characteristics of instruments for the measurement of surface texture by the profile method as defined in ISO 3274.

DS/EN ISO 5436-1-2000由丹麦标准化协会 DK-DS 发布于 2000-11-08，并于 2000-05-05 实施。

DS/EN ISO 5436-1-2000在国际标准分类中归属于: 17.040.30 测量仪器仪表。

DS/EN ISO 5436-1-2000的历代版本如下：

• 2000年11月08日 DS/EN ISO 5436-1-2000

DS/EN ISO 5436-1-2000 由 DS/ISO 5436-1987 变更而来。

DS/EN ISO 5436-1-2000 于 2013-07-01 变更为 ETSI TR 101 542-2013 卫星地面站与系统(SES).MSS上下文条件下候选无线接口性能的比较 版本1.2.1。

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标准号

DS/EN ISO 5436-1-2000

发布日期

2000年11月08日

实施日期

2000年05月05日

废止日期

无

国际标准分类号

17.040.30

发布单位

DK-DS

代替标准

ETSI TR 101 542-2013

被代替标准

DS/ISO 5436-1987

适用范围

This International Standard specifies the characteristics of material measures used as measurement standards (etalon) for the calibration of metrological characteristics of instruments for the measurement of surface texture by the profile method as defined in ISO 3274.

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