DS/EN 61967-4/A1-2006

Integrated circuits – Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz – Part 4: Measurement of conducted emissions – 1 ohm/150 ohm direct coupling method

DS/EN 61967-4/A1-2006 发布历史

Specifies a method to measure the conducted electromagnetic emission of integrated circuits by direct RF current measurement with a 1 ohm resistive probe and RF voltage measurement using a 150 ohm coupling network. These methods guarantee a high degree of repeatability and correlation of measurements.

DS/EN 61967-4/A1-2006由丹麦标准化协会 DK-DS 发布于 2006-05-29，并于 2006-05-29 实施。

DS/EN 61967-4/A1-2006在国际标准分类中归属于: 31.200 集成电路、微电子学。

DS/EN 61967-4/A1-2006的历代版本如下：

• 2006年05月29日 DS/EN 61967-4/A1-2006

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标准号

DS/EN 61967-4/A1-2006

发布日期

2006年05月29日

实施日期

2006年05月29日

废止日期

无

国际标准分类号

31.200

发布单位

DK-DS

适用范围

Specifies a method to measure the conducted electromagnetic emission of integrated circuits by direct RF current measurement with a 1 ohm resistive probe and RF voltage measurement using a 150 ohm coupling network. These methods guarantee a high degree of repeatability and correlation of measurements.