DS/EN ISO 9220:1995
金属镀层 镀层厚度的测量 扫描电子显微镜法

Metallic coatings - Measurement of coating thickness - Scanning electron microscope method


DS/EN ISO 9220:1995 中,可能用到以下仪器设备

 

日本电子JSM-6510系列扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

FEI Quanta x50 FEG场发射环境扫描电镜

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蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

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日本电子6700F高分辨扫描电子显微镜

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蔡司Gemini Sigma 300/VP SEM超高分辨率场发射扫描电镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

日本电子JSM-7200F扫描电子显微镜

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日本电子株式会社(JEOL)

 

大气压扫描电镜

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聚焦离子束系统

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ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

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北京欧波同光学仪器有限公司/欧波同/OPTON

 

Quanta SEM

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蔡司ULTRA 55扫描电子显微镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

蔡司SIGMA 500/VP高分辨率场发射扫描电镜

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蔡司MultiSEM 505/MultiSEM 506扫描电子显微镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

聚焦离子束系统

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

ULTRA 结构分析用场发射扫描电子显微镜

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卡尔蔡司(上海)管理有限公司

 

过程控制用微粒分析工具/扫描电镜SEM

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Apollo 300 扫描电镜

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TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

TESCAN LYRA3镓等离子双束FIB系统(GM)

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TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

泰思肯VEGA 3 LMU/LMH扫描电镜

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TESCAN MIRA3场发射扫描电镜(XMU/XMH)

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泰思肯VEGA 3 SBU/VEGA 3 SBH微型扫描电子显微镜

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TESCAN泰思肯贸易(上海)有限公司

 

泰思肯VEGA3 GMH/VEGA3 GMU扫描电镜

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超大样品室钨灯丝扫描电镜VEGA 3 XMU/XMH

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GAIA3 model 2016超高分辨双束扫描电镜系统 (FIB-SEM)

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TESCAN VEGA3钨灯丝扫描电镜(LM)

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TESCAN大样品仓双束电镜 (FIB-SEM)

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集成矿物分析仪 TIMA-X FEG(LM)

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TESCAN MAIA3 model 2016 (GM)超高分辨场发射扫描电镜

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标准号
DS/EN ISO 9220:1995
发布
1995年
发布单位
丹麦标准化协会
当前最新
DS/EN ISO 9220:1995
 
 
本标准规定了用扫描电子显微镜检查横截面测量金属镀层局部厚度的方法。

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