LST EN 60749-33-2004

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance. Unbiased autoclave (IEC 60749-33:2004)

LST EN 60749-33-2004 发布历史

LST EN 60749-33-2004由立陶宛标准局 LT-LST 发布于 2004-08-30，并于 2004-08-30 实施。

LST EN 60749-33-2004在国际标准分类中归属于: 31.080 半导体分立器件。

LST EN 60749-33-2004的历代版本如下：

• 2004年08月30日 LST EN 60749-33-2004

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标准号

LST EN 60749-33-2004

发布日期

2004年08月30日

实施日期

2004年08月30日

废止日期

无

国际标准分类号

31.080

发布单位

LT-LST