LST EN 62374-2008
半导体器件栅极介电薄膜的时间相关介电击穿（TDDB）测试（IEC 62374:2007）

Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films (IEC 62374:2007)

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标准号: LST EN 62374-2008
发布: 2008年
发布单位: 立陶宛标准局
当前最新: LST EN 62374-2008

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