DIN IEC/TS 62132-9-2012
集成电路.电磁抗干扰测量.第9部分:辐射抗扰度测量.表面扫描法(IEC 47A/887/CD-2012)

Integrated circuits - measurement of electromagnetic immunity - Part 9: Measurement of radiated immunity - Surface scan method (IEC 47A/887/CD:2012)

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标准号

DIN IEC/TS 62132-9-2012

发布日期

2012年11月

实施日期

废止日期

无

中国标准分类号

L55

国际标准分类号

31.200

发布单位

DE-DIN