IEC 62276:2012
表面声波(SAW)装置用单晶薄片.规格和测量方法

Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods

被代替

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标准号

IEC 62276:2012

发布

2012年

发布单位

国际电工委员会

替代标准

IEC 62276:2016

当前最新

IEC 62276:2016

 

 

被代替标准

IEC 49/1005/FDIS:2012 IEC 62276:2005

适用范围

This International Standard applies to the manufacture of synthetic quartz@ lithium niobate (LN)@ lithium tantalate (LT)@ lithium tetraborate (LBO)@ and lanthanum gallium silicate (LGS) single crystal wafers intended for use as substrates in the manufacture of surface acoustic wave (SAW) filters and resonators.

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