GB/T 4937.4-2012由国家质检总局 CN-GB 发布于 2012-11-05,并于 2013-02-15 实施。
GB/T 4937.4-2012 在中国标准分类中归属于: L40 半导体分立器件综合,在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。
GB/T 4937.4-2012 半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)的最新版本是哪一版?
最新版本是 GB/T 4937.4-2012 。
GB/T4937 的本部分规定了强加速稳态湿热试验C(HAST)方法,用于评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。 2 强加速稳态湿热试验(HAST) ————般说明
测试范围:浓度: 0~500pphm温度: 室温~50℃测试参数:550*500*700mm高压蒸煮(HAST)高压蒸煮试验采用高压高湿条件,考核塑料封装的半导体集成电路等电子器件的综合影响,是用高加速的试验方式评价电子产品耐湿热的能力,常用于产品开发、质量评估、失效验证。...
一提起环境试验箱,先了解一下“环境”与“试验箱”,“环境”由许多环境条件组成,指待测样品在特定时间内所经受的外部条件总和,可以是机械的、气候的、生物的,以及由于化学活性物质和机械活性物质产生的其他效应。 “试验箱”的定义是“能够达到规定的试验条件的某部分封闭体或空间”,来模拟所需要测试的环境因素参数及其相应的严酷程度。...
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