NF X21-008-2012
微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规格

Microbeam analysis - Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive ray spectrometers for use in electron probe microanalysis

NF X21-008-2012 发布历史

NF X21-008-2012由法国标准化协会 FR-AFNOR 发布于 2012-12-01，并于 2012-12-28 实施。

NF X21-008-2012 在中国标准分类中归属于: N35 光学测试仪器，在国际标准分类中归属于: 71.040.99 有关分析化学的其他标准。

NF X21-008-2012的历代版本如下：

• 2012年12月01日 NF X21-008-2012 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规格

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标准号

NF X21-008-2012

发布日期

2012年12月01日

实施日期

2012年12月28日

废止日期

无

中国标准分类号

N35

国际标准分类号

71.040.99

发布单位

FR-AFNOR

被代替标准

NF X21-008-2006