YS/T 871-2013
高纯铝化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法
Chemical analysis of high purity aluminium.Determination of trace impurities.Glow discharge mass spectrometry
YST871-2013, YS871-2013
YS/T 871-2013 中，可能用到以下仪器设备
- 标准号
- YS/T 871-2013
- 别名
- YST871-2013
YS871-2013 - 发布
- 2013年
- 发布单位
- 行业标准-有色金属
- 当前最新
- YS/T 871-2013
- 本标准规定了采用高质量分辨率辉光放电质谱法测定高纯铝中痕量元素的测试方法、本标准适用于高纯铝中痕量元素含量的测定、各元素测定范围为5.0×10-7%~1.0×10-3%(ω%)、
YS/T 871-2013相似标准
推荐
701项有色金属、化工石化等行业标准将制修订
-2010高纯钛化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法推荐制定 2011原材料工业司全国有色金属标准化技术委员会北京有色金属研究总院 49YSFFZT3974-2010高纯钽化学分析方法 痕量杂质元素的测定 电感耦合等离子体质谱法推荐制定 2011原材料工业司全国有色金属标准化技术委员会北京有色金属研究总院 50YSFFZT3975-2010高纯钽化学分析方法 痕量杂质元素的测定 辉光放电质谱法推荐制定...
赋能创“芯” | 半导体材料痕量杂质固体进样检测解决方案
高纯铜靶材分析辉光放电质谱法（GDMS）是进行高纯铜中痕量杂质元素含量的标准方法。YS/T 922-2013规定的73种痕量杂质元素中，K Zn Ge As Se Br Ru Rh等均存在基体相关的质谱干扰，是高纯铜分析的难点。以Rh为例说明Element GD Plus在高纯材料检测中的优势。...
辉光放电质谱仪的应用范围
辉光放电质谱法作为一种固体样品的直接分析方法，被认为是目前为止唯一的同时具有最广泛的分析元素范围和足够灵敏度的元素分析方法，已成为固体材料多元素分析尤其是高纯材料分析的强有力的工具。直接对固体进行分析避免了将固体转化成溶液时因在溶解、稀释等过程中造成的玷污和灵敏度降低，而且该方法对样品的分析面积大，所得数据结果有好的代表性。 ...
质谱分析法术语--无机质谱法
在高纯气体、高纯材料中痕量杂质分析，无机物元素分析，固体表面的微区和深度分析等有成功应用，无机质谱的突出优点是它具有超高灵敏度，可提供定性、定量和结构等多种信息。...