JIS B 7440-2:2013
几何产品技术规范(GPS).坐标测量机(CMMs)的验收和再验证试验.第2部分:尺寸测量用坐标测量机

Geometrical product specifications (GPS) -- Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines (CMM) -- Part 2: CMMs used for measuring linear dimensions


标准号
JIS B 7440-2:2013
发布
2013年
发布单位
日本工业标准调查会
当前最新
JIS B 7440-2:2013
 
 
引用标准
ISO/IEC Guide 99 ISO/TS 23165:2006 JIS B 0641-1 JIS B 0672-1 JIS B 7440-1 JIS B 7440-5
被代替标准
JIS B 7440-2:2003
适用范围
本标准规定了验证制造商规定的用于测量线性尺寸的坐标测量机(CMM)性能的验收测试。它还指定了重新验证测试,使用户能够定期重新验证 CMM 的性能。

JIS B 7440-2:2013相似标准


推荐


谁引用了JIS B 7440-2:2013 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号