DS/EN 62132-8:2012
集成电路电磁抗扰度的测量第8部分：辐射抗扰度的测量 IC 带状线法

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 8: Measurement of radiated immunity - IC stripline method

标准号: DS/EN 62132-8:2012
发布: 2012年
发布单位: 丹麦标准化协会
当前最新: DS/EN 62132-8:2012

适用范围: IEC 62132-8:2012 规定了一种测量集成电路 (IC) 对 150 kHz 至 3 GHz 频率范围内射频 (RF) 辐射电磁干扰的抗扰度的方法。

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