KS C IEC 60749-7-2004
半导体器件.机械和气候试验方法.第7部分:其他残余气体的分析和内部含水量的测量

Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 7：Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 KS C IEC 60749-7-2004 前三页，或者稍后再访问。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

KS C IEC 60749-7-2004

发布日期

2004年11月29日

实施日期

2004年11月29日

废止日期

无

中国标准分类号

K46

国际标准分类号

31.080.00

发布单位

KR-KATS

适用范围

이 규격은 금속 또는 세라믹 밀봉 소자 내의 대기 중 수증기 및 다른 기체들의 함량을 측