이 규격은 반도체 소자의 저 대기압 시험을 다루고 있다. 시험은 감압 중에 대기 및 기
KS C IEC 60749-2-2004由韩国标准 KR-KATS 发布于 2004-11-29,并于 2004-11-29 实施。
KS C IEC 60749-2-2004 在中国标准分类中归属于: K46 电力半导体器件、部件。
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